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QualitéSemi-conducteurs

Cadre d'évaluation de la classification de défauts

Un cadre d'évaluation aligné production qui note les classifieurs de défauts sur le risque opérationnel, pas seulement sur les métriques ML standard.

Inspection de wafer en salle blanche représentant la classification de défauts et l'évaluation qualité.

Problème

Construire un protocole d'évaluation aligné production pour les classifieurs de défauts, qui tient compte du déséquilibre de classes, de l'incertitude d'annotation et de l'impact aval.

  • +Désalignement opérationnel : les métriques ML classiques ne reflètent pas le vrai coût des défauts mal classés.
  • +Erreurs à fort enjeu : une mauvaise classification peut déclencher des interventions outil inutiles, ou laisser passer des excursions critiques.

Approche

  • +Scoring personnalisé : intègre la gravité des défauts et la confiance de classification.
  • +Analyse comparative : benchmark des modèles sur leur impact opérationnel (risque de perte de rendement), pas seulement sur les métriques techniques.
  • +Désaccord d'experts : pondération pour les étiquettes ambiguës de référence.

Livré

  • +Cadre d'évaluation de performance.
  • +Fonction de scoring personnalisée pondérée par les coûts.
  • +Protocole de validation appliqué à la classification d'images SEM.

Résultat

  • +Meilleure sélection de modèles : ceux avec la plus forte fiabilité production sortent en tête, contre l'accuracy seule.
  • +Analyse alignée sur le risque : variance de coût mise au jour entre modèles à F1 similaires.

Où ça a tourné

  • +Évaluation de modèles pour déploiement fab.
  • +Validation d'outils et de recettes.
  • +Suivi long terme de la dérive des classifieurs.

Stack

Vision par ordinateur · Apprentissage sensible aux coûts · Évaluation de modèles · Risque opérationnel

Solutions liées

Photo : A female worker in protective clothing inspects silicon wafers in a semiconductor factory, by metamorworks, Adobe Stock 1536030058

Prochaine étape

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60 minutes. Gratuit. Sans pitch ni slide.